Analizzatore dimensionale di particelle LS 13 320 XR

Per grandi miglioramenti che aiutano a individuare variazioni minime.

Il LS 13 320 XR offre dati di eccellenza sulla distribuzione dimensionale delle particelle grazie a una tecnologia avanzata di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS),* che permette misurazioni ad alta risoluzione e una gamma dinamica ampliata. Come il LS 13 320, l’analizzatore XR fornisce risultati veloci, accurati e aiuta a semplificare i flussi di lavoro, al fine di ottimizzare l'efficienza. Alcuni grandi miglioramenti aiutano a individuare in modo affidabile variazioni minime che possono avere un grosso impatto sui dati di analisi delle particelle.

Documentazione e note applicative

Scegliere un LS 13 320 XR modello

Funzioni di LS 13 320 XR

Individuare variazioni minime

  • Gamma di misurazione ampliata: 10 nm – 3.500 µm
  • La diffrazione laser più la tecnologia di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS) consentono una misurazione ad alta risoluzione e la segnalazione di dati reali fino a 10 nm
  • Permette il rilevamento accurato e affidabile di diverse dimensioni di particelle in un singolo campione

Software di facile utilizzo

  • Il software ADAPTdispone della verifica automatica di controllo superato/fallito
  • I metodi preconfigurati forniscono risultati in 3 clic o meno
  • Rende semplice l'utilizzo dell'analizzatore sia agli utenti esperti che a quelli alle prime armi
  • Sovrapposizione con 1 clic dei dati storici
  • La diagnostica intuitiva per l’utente mantiene informati durante il campionamento
  • Creazione di un metodo semplificato per misurazioni standardizzate

Il software ADAPT garantisce la norma CFR 21 Parte 11

  • Sistema di sicurezza personalizzabile per soddisfare diversi bisogni
  • Scelta tra 4 livelli di sicurezza
  • La configurazione di massima sicurezza supporta la norma CFR 21 Parte 11

Tecnologia PIDS* per il rilevamento diretto delle particelle di 10 nm

  • 3 lunghezze d’onda (450, 600 e 900 nm) irradiano i campioni con luce polarizzata verticale ed orizzontale
  • L’analizzatore misura la luce dispersa dai campioni in una gamma di angoli
  • Le differenze tra la luce irradiata orizzontalmente e verticalmente per ciascuna lunghezza d’onda producono dati sulla distribuzione dimensionale delle particelle ad alta risoluzione

Specifiche del prodotto LS 13 320 XR

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm - 3,500 µm
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

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Documentazione

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Documenti tecnici