Analizzatore dimensionale di particelle LS 13 320 XR
Per grandi miglioramenti che aiutano a individuare variazioni minime.
Il LS 13 320 XR offre dati di eccellenza sulla distribuzione dimensionale delle particelle grazie a una tecnologia avanzata di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS),* che permette misurazioni ad alta risoluzione e una gamma dinamica ampliata. Come il LS 13 320, l’analizzatore XR fornisce risultati veloci, accurati e aiuta a semplificare i flussi di lavoro, al fine di ottimizzare l'efficienza. Alcuni grandi miglioramenti aiutano a individuare in modo affidabile variazioni minime che possono avere un grosso impatto sui dati di analisi delle particelle.
- Gamma di misurazione diretta compresa tra 10 nm e 3.500 µm
- Segnala automaticamente i risultati di controllo superato/fallito per un più rapido controllo di qualità
- Software avanzato che semplifica la creazione di un metodo per misurazioni standardizzate
- Nuovi standard di controllo per verificare adeguatamente le prestazioni dello strumento/del modulo
Funzioni di LS 13 320 XR
Individuare variazioni minime
- Gamma di misurazione ampliata: 10 nm – 3.500 µm
- La diffrazione laser più la tecnologia di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS) consentono una misurazione ad alta risoluzione e la segnalazione di dati reali fino a 10 nm
- Permette il rilevamento accurato e affidabile di diverse dimensioni di particelle in un singolo campione
Software di facile utilizzo
- Il software ADAPTdispone della verifica automatica di controllo superato/fallito
- I metodi preconfigurati forniscono risultati in 3 clic o meno
- Rende semplice l'utilizzo dell'analizzatore sia agli utenti esperti che a quelli alle prime armi
- Sovrapposizione con 1 clic dei dati storici
- La diagnostica intuitiva per l’utente mantiene informati durante il campionamento
- Creazione di un metodo semplificato per misurazioni standardizzate
Il software ADAPT garantisce la norma CFR 21 Parte 11
- Sistema di sicurezza personalizzabile per soddisfare diversi bisogni
- Scelta tra 4 livelli di sicurezza
- La configurazione di massima sicurezza supporta la norma CFR 21 Parte 11
Tecnologia PIDS* per il rilevamento diretto delle particelle di 10 nm
- 3 lunghezze d’onda (450, 600 e 900 nm) irradiano i campioni con luce polarizzata verticale ed orizzontale
- L’analizzatore misura la luce dispersa dai campioni in una gamma di angoli
- Le differenze tra la luce irradiata orizzontalmente e verticalmente per ciascuna lunghezza d’onda producono dati sulla distribuzione dimensionale delle particelle ad alta risoluzione
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Specifiche del prodotto LS 13 320 XR
| Light Source | Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm) |
| Particle Size Analysis Range | 10 nm - 3,500 µm |
| Fluid Compatibility | Emulsions, Suspensions, Powders |
| Reporting | PDF, Excel |
| Item Specifications Referenced | B98100 |