Analizzatore dimensionale di particelle LS 13 320 XR

Per grandi miglioramenti che aiutano a individuare variazioni minime.

Il LS 13 320 XR offre dati di eccellenza sulla distribuzione dimensionale delle particelle grazie a una tecnologia avanzata di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS),* che permette misurazioni ad alta risoluzione e una gamma dinamica ampliata. Come il LS 13 320, l’analizzatore XR fornisce risultati veloci, accurati e aiuta a semplificare i flussi di lavoro, al fine di ottimizzare l'efficienza. Alcuni grandi miglioramenti aiutano a individuare in modo affidabile variazioni minime che possono avere un grosso impatto sui dati di analisi delle particelle.

Documentazione e note applicative

Funzioni di LS 13 320 XR

Individuare variazioni minime

  • Gamma di misurazione ampliata: 10 nm – 3.500 µm
  • La diffrazione laser più la tecnologia di dispersione differenziale dell'intensità di polarizzazione (PIDS) consentono una misurazione ad alta risoluzione e la segnalazione di dati reali fino a 10 nm
  • Permette il rilevamento accurato e affidabile di diverse dimensioni di particelle in un singolo campione

Software di facile utilizzo

  • Il software ADAPTdispone della verifica automatica di controllo superato/fallito
  • I metodi preconfigurati forniscono risultati in 3 clic o meno
  • Rende semplice l'utilizzo dell'analizzatore sia agli utenti esperti che a quelli alle prime armi
  • Sovrapposizione con 1 clic dei dati storici
  • La diagnostica intuitiva per l’utente mantiene informati durante il campionamento
  • Creazione di un metodo semplificato per misurazioni standardizzate

Il software ADAPT garantisce la norma CFR 21 Parte 11

  • Sistema di sicurezza personalizzabile per soddisfare diversi bisogni
  • Scelta tra 4 livelli di sicurezza
  • La configurazione di massima sicurezza supporta la norma CFR 21 Parte 11

Tecnologia PIDS* per il rilevamento diretto delle particelle di 10 nm

  • 3 lunghezze d’onda (450, 600 e 900 nm) irradiano i campioni con luce polarizzata verticale ed orizzontale
  • L’analizzatore misura la luce dispersa dai campioni in una gamma di angoli
  • Le differenze tra la luce irradiata orizzontalmente e verticalmente per ciascuna lunghezza d’onda producono dati sulla distribuzione dimensionale delle particelle ad alta risoluzione

Scegliere un LS 13 320 XR modello

Specifiche del prodotto LS 13 320 XR

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm - 3,500 µm
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

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Documentazione

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Documenti tecnici